错误 纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件

『题目』：纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波，又无底波，这是由于试件中存在与探测垂直的大缺陷（）

• 答案:
• A.错误

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