『题目』：THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，热靶温度是由热靶上的AD590温度传感器传入控制箱的（）
- 答案:
- A.错误
1、THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的（）
- 答案:
- A.正确
2、THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统制冷电流最大值为，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度（）
- 答案:
- A.0.95A
3、THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的响应率稳定（）
- 答案:
- 正在整理中！
4、THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是造成的（）
- 答案:
- A.探头
5、THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下（）
- 答案:
- A.正确
6、THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（）
- 答案:
- A.灵敏率
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