首页 » 试题答案c » CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力()

CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力()

 

『题目』:CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力()

  • 答案:
  • A.错误

1、利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离,仅能测定直探头盲区的大致范围()

  • 答案:
  • 正在整理中!

2、利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围()

  • 答案:
  • A.正确

3、利用IIW试块50mm孔与两侧面距离,能测定直探头盲区的大致范围()

  • 答案:
  • 正在整理中!

4、CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角()

  • 答案:
  • 正在整理中!

5、利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头()

  • 答案:
  • 正在整理中!

6、与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力()

  • 答案:
  • 正在整理中!

原文链接:CSK-IA试块利用有机玻璃块测定直探头分辨力和穿透力(),转载请注明来源!