首页 » 试题答案c » THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障()

THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障()

 

『题目』:THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障()

  • 答案:
  • A.错误

1、THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时,可能是造成的()

  • 答案:
  • A.探头

2、THDS-C(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流最大值为,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度()

  • 答案:
  • 正在整理中!

3、THDS-C(哈科所)探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时,再重新设置()

  • 答案:
  • A.元件温度

4、THDS(哈科所)探测站,红外轴温探测系统碲镉汞器件需要在低温条件下工作,以获得比较高的响应率和,因此要对碲镉汞进行制冷,降低器件温度()WWW.jXJУbɑ·CΟM收集

  • 答案:
  • 正在整理中!

原文链接:THDS-B(哈科所)红外轴温探测系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障(),转载请注明来源!