首页 » 试题答案d » 可通过测量X43内部接点间的通断来判断ATP天线内部主线圈是否完好()

可通过测量X43内部接点间的通断来判断ATP天线内部主线圈是否完好()

 

『题目』:可通过测量X43内部接点间的通断来判断ATP天线内部主线圈是否完好()

  • 答案:
  • A.错误

1、可通过测量X42内部接点间的通断来判断PTI天线内部线圈是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

2、可通过测量串行通信板的X4内部对应接点间的通断来判断OBCU连接是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

3、可通过测量X741内部对应接点间的通断来判断雷达连接是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

4、可通过测量X731内部对应接点间的通断来判断雷达连接是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

5、可通过测量X42内部接点间的通断来判断速度传感器连接是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

6、可通过测量串行通信板的X1内部对应接点间的通断来判断HMI连接是否完好()

  • 答案:
  • 正在整理中!

7、可通过测量X731内部对应接点间的通断来判断速度传感器连接是否完好()

  • 答案:
  • A.正确

8、单水力压差式封隔器找窜时,通过测量与观察来判断欲测层段间有否窜槽,具体方法有种()

  • 答案:
  • A.二

9、隔离开关分合闸位置“双确认”改造即通过改造实现一种新的隔离开关设备分合闸位置监测方式,与传统辅助开关接点实现隔离开关设备分合闸位置判断的方式形成同源的分合闸位置指示()

  • 答案:
  • A.错误

原文链接:可通过测量X43内部接点间的通断来判断ATP天线内部主线圈是否完好(),转载请注明来源!